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第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在南通举行
2018-09-10
 

97日,由集成电路产业技术创新战略联盟指导,南通市人民政府、集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟主办,南通市电子信息产业联盟、通富微电子股份有限公司承办的“第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛”在南通举行。

集成电路产业技术创新战略联盟理事长、科技部原副部长曹健林,集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟理事长、中科院微电子所所长叶甜春,科技部重大专项司副巡视员、02专项实施管理办公室副主任邱刚,国家集成电路产业投资基金股份有限公司总裁丁文武等行业领导、专家及企业家代表参加会议。通富微电总裁石磊出席会议并主持上午的主题报告。市政府副市长赵闻斌出席会议并致辞。

详情请点击链接:http://jhwb.com.cn/news/content/2018-09/08/content_2583811.htm

 

 





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